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Statistische Informationstechnik: Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalschätzung
Statistische Informationstechnik: Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalschätzung
Kroschel Kristian , Gerhard Rigoll , Björn W. Schuller
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Kurzbeschreibung
Die Autoren behandeln die Signalerkennung im Rauschen, die Mustererkennung sowie die Parameter- und Signalschätzung. Grundlegende Fragen veranschaulichen sie anhand von Anwendungsbeispielen. Berücksichtigt werden moderne Verfahren wie Wavelet-Transformation und neben klassischen... Lesen Sie weiter

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