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Statistische Informationstechnik: Signal - und Mustererkennung, Parameter- und Signalsch�tzung [Gebundene Ausgabe]

Kristian Kroschel (Autor), Gerhard Rigoll (Autor), Bj�rn Schuller (Autor)

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Produktinformation

Gebundene Ausgabe: 372 Seiten
Verlag: Springer Berlin Heidelberg; Auflage: 5. Aufl. (2. Februar 2011)
Sprache: Deutsch
ISBN-10: 3642159532
ISBN-13: 978-3642159534
Gr��e und/oder Gewicht: 23,4 x 15,5 x 2,5 cm
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Pressestimmen

"...ist die Darstellung des von Haus aus komplizierten Lehrstoffes...übersichtlich und vorteilhaft zweckorientiert." (Nachrichten Elektronik) -- Dieser Text bezieht sich auf eine vergriffene oder nicht verf�gbare Ausgabe dieses Titels.

Kurzbeschreibung

Die Neuauflage gibt einen Überblick über Signalerkennung im Rauschen und Mustererkennung sowie Parameter- und Signalschätzung. Moderne Verfahren wie Wavelet-Transformation oder Clusterbildung mit unscharfen Partitionen werden berücksichtigt. Neben klassischen Verfahren der Detektion werden neuere, z.B. auf neuronale Netze und Fuzzy-Logik aufbauende Klassifikatoren diskutiert. Die Parameterschätzung behandelt neben Bayes- und Maximum-Likelihood-Ansätzen auch adaptive Verfahren. Wiener- und Kalman-Filter sind Beispiele zur Signalschätzung. Die Grundlagen werden durch Anwendungsbeispiele aus der Praxis erläutert. Das Buch wendet sich an Ingenieure, Informatiker, Physiker und Mathematiker. -- Dieser Text bezieht sich auf eine vergriffene oder nicht verf�gbare Ausgabe dieses Titels.

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