Kurzbeschreibung
Dieses Buch vermittelt den aktuellen Stand zur Tolerierung und Messung technischer Oberflächen. Behandelt werden Tolerierungsaspekte, Messbedingungen und statistische Techniken zur Messwertanalyse und Messmittelfähigkeitsuntersuchung, indem es moderne optoelektronische Oberflächenmesstechnik und neue Kenngrößen zur dreidimensionalen Oberflächencharakterisierung einbezieht. Der Autor gibt einen Ausblick auf künftige Entwicklungstendenzen und industrielle Anwendungsgebiete.
Über den Autor
Dr. Christian Beck ist Leiter Fertigungsmesstechnik und Projektleiter Forschung bei der TEQ GmbH Chemnitz, Institut für Qualitätsmanagement und Fertigungsmesstechnik sowie Dozent.