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An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement (Oxford Series in Electrical and Computer Engineering (Hardco) [Englisch] [Gebundene Ausgabe]

Gordon Roberts , Friedrich Taenzler , Mark Burns

Preis: EUR 130,00 kostenlose Lieferung. Siehe Details.
  Alle Preisangaben inkl. MwSt.
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Kurzbeschreibung

14. Oktober 2011 Oxford Series in Electrical and Computer Engineering (Hardco
With the proliferation of complex semiconductor devices containing digital, analog, mixed-signal, and radio-frequency circuits, today's engineer must be fluent in all four circuit types. Written for advanced undergraduate and graduate-level students, as well as engineering professionals, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Second Edition, encompasses analog, mixed-signal and radio-frequency circuits tests, with many relevant industrial examples. The text assumes a solid background in analog and digital circuits and a working knowledge of computers and computer programming.

An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Second Edition, includes examples and illustrations--featuring state-of-the-art industrial technology--to enrich and enliven the text. The book also introduces large-scale mixed-signal circuit and individual circuit tests, discusses the value-added benefits of mixed-signal IC testing to a manufacturer's product, and clearly defines the role of the test engineer.

Produktinformation


Produktbeschreibungen

Über den Autor und weitere Mitwirkende


Gordon Roberts is James McGill Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering at McGill University. He has conducted extensive research on analog integrated circuit design and mixed-signal test issues. Dr. Roberts has published numerous papers at IEEE conferences, coauthored several textbooks related to mixed-signal test and analog integrated circuit design (including SPICE, Second Edition, with Adel Sedra, OUP, 1996), and contributed various specialized volumes to other books.

Friedrich Taenzler is an RF-Engineering Manager at Texas Instruments and a major contributor in the field of RF testing and design.

Mark Burns is a former TI fellow at Texas Instruments and an accomplished expert in mixed-signal IC test and measurement area.

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Amazon.com: 5.0 von 5 Sternen  2 Rezensionen
5.0 von 5 Sternen Five Stars 15. Juli 2014
Von TIAN KAI-YUAN - Veröffentlicht auf Amazon.com
Verifizierter Kauf
Good Book!
0 von 1 Kunden fanden die folgende Rezension hilfreich
5.0 von 5 Sternen Good book to study Mixed-Signal test engineering basics. 23. April 2012
Von Velemu - Veröffentlicht auf Amazon.com
Verifizierter Kauf
This book is great resource to people who want to get basics of test engineering considering Mixed-Signal IC. It gives also a crash course to testability structures and test coverage design. New edition also brings it up to correct decade, since parts of the old (2001) edition was already a bit outdated, although this is common in a such fast paced industry of IC design and test.
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