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Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
 
 
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Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld [Gebundene Ausgabe]

Edgar Dietrich , Alfred Schulze
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Produktinformation

  • Gebundene Ausgabe: 328 Seiten
  • Verlag: Carl Hanser Verlag GmbH & CO. KG; Auflage: 1. (22. Mai 2003)
  • Sprache: Deutsch
  • ISBN-10: 3446223207
  • ISBN-13: 978-3446223202
  • Größe und/oder Gewicht: 24 x 16,8 x 2,2 cm
  • Durchschnittliche Kundenbewertung: 4.0 von 5 Sternen  Alle Rezensionen anzeigen (2 Kundenrezensionen)
  • Amazon Bestseller-Rang: Nr. 913.148 in Bücher (Siehe Top 100 in Bücher)
  • Komplettes Inhaltsverzeichnis ansehen

Produktbeschreibungen

Kurzbeschreibung

In der Fertigung muss die Eignung eines Prüfprozesses nachgewiesen werden. Diese Forderung ist in mehreren Normen, Verbandsrichtlinien und Firmenrichtlinien der Automobilindustrie zwingend vorgeschrieben. Das Buch gibt eine umfangreiche Orientierung und Hilfestellung zu allen Forderungen für Fertigung und Produktion.

Über den Autor

Dr.-Ing Edgar Dietrich und Dipl.-Ing Alfred Schulze sind Inhaber der Q-DAS GmbH, Weinheim

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Kundenrezensionen

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Die hilfreichsten Kundenrezensionen
Von JWA
Format:Gebundene Ausgabe
In sehr klarer und verständlicher Art erläutern die Autoren die Verfahren zur Verbesserung von Prüfsystemen und zum Eignungsnachweis von Prüfprozessen. Das Buch bietet eine umfangreiche Orientierung und Hilfestellung zu den aktuellen Forderungen, insbesondere denjenigen der Automobilindustrie. Hilfreich für das Verständnis und die praktische Umsetzung sind auch die zahlreichen durchgerechneten Beispiele. Weiters profitiert das Buch auch durch die enge Zusammenarbeit der Autoren mit der Automobilindustrie.
Kurz: DAS Standardwerk zu diesem Themengebiet im deutschsprachigen Raum!
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1 von 2 Kunden fanden die folgende Rezension hilfreich
Zu Software lastig... 4. Januar 2009
Format:Gebundene Ausgabe
Das Buch beinhaltet die Grundlagen für den Eignungsnachweis von Messsystemen. Dabei orientiert sich die gesamte Darstellung und vorgehensweise im Buch allerdings an der Software, die der Autor natürlich gerne noch verkaufen möchte.
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